2026年10月30日，中国工程物理研究院化工材料研究所郑霄家研究员应邀来我院，作了题为“钙钛矿半导体X射线探测与成像”的学术报告。我院相关专业教师及学生参加了报告会，报告会由杨周副教授主持。

 报告中，郑霄家研究员介绍了X射线探测与成像技术的应用背景，钙钛矿半导体X射线探测器的高灵敏度特性有助于实现低剂量、高信噪比的X射线成像，在提升医学诊断安全性等方面展现出广阔的应用前景。然而，常规钙钛矿材料存在离子迁移显著、热膨胀系数失配、难以制备高质量百微米厚膜等问题，制约了成像性能与长期稳定性。围绕上述瓶颈，他系统介绍了团队在材料结构设计方面的研究进展：通过协同调控离子迁移与热膨胀特性，研制出兼具高灵敏度与高稳定性的X射线探测器，并进一步融合先进工艺，实现钙钛矿活性层与TFT背板的原位集成，获得了低剂量下的高清晰成像。最后，他从维度工程、应力调控以及高性能阵列化X射线成像器件设计与可控制备等方面，对团队的最新研究进展进行了系统阐述与展望。

      报告结束后，郑霄家研究员与在场师生就钙钛矿薄膜的可控制备、离子迁移的抑制策略以及探测器阵列的集成工艺等问题展开了讨论与交流。本次报告不仅极大地拓宽了师生在钙钛矿半导体材料与X射线探测成像领域的研究视野，也为我院在钙钛矿功能材料设计、薄膜可控制备及器件集成研究方面提供了宝贵的思路。

撰稿：杨周 审核：刘治科